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LCR數(shù)字電橋串聯(lián)和并聯(lián)的選擇使用 LCR數(shù)字電橋操作面板都有“串聯(lián)”和“并聯(lián)”按鍵供用戶選擇，這串聯(lián)和并聯(lián)不是物理連結(jié)，而是內(nèi)在計(jì)算模式的改變，以改變計(jì)算模式得到理想的測(cè)試精度。（具體操作面板，可以參見(jiàn)：HPS2810B，HPS2817，HPS2816A這些型號(hào)）理論上電感正弦波激勵(lì)響應(yīng)電壓超前電流90度，電容電壓落后電流90度。實(shí)際測(cè)量中由于銅阻和各種損耗的存在，超前或落后都小于90度，這種損耗在測(cè)量中以副參數(shù)出現(xiàn)，電感損發(fā)布時(shí)間：2013-12-18 16:55 點(diǎn)擊次數(shù)：2333 次
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晶體管特性圖示儀簡(jiǎn)介 晶體管特性圖示儀是電子測(cè)量常用儀器之一，日前通用的晶體管特性圖示儀的掃描信號(hào)源和階梯信號(hào)源由50Hz工頻市電變換而來(lái)，掃描頻率低，顯示的特性曲線閃爍嚴(yán)重，穩(wěn)定性差;X軸掃描為正弦脈沖，線性度差，在顯示晶體管特性曲線時(shí)亮度不均勻(前亮后暗)，而且波形變換電路復(fù)雜。尊敬的客戶：本公司有可編程直流電源、醫(yī)用安規(guī)測(cè)試儀、電參數(shù)測(cè)量?jī)x產(chǎn)品，您可以通過(guò)網(wǎng)頁(yè)撥打本公司的服務(wù)專線了解更多產(chǎn)品的詳細(xì)信息，至善發(fā)布時(shí)間：2013-12-07 20:28 點(diǎn)擊次數(shù)：1648 次
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LCR數(shù)字電橋端接配置說(shuō)明 LCR數(shù)字電橋端接配置說(shuō)明一．引言對(duì)交流元件調(diào)試儀器（低頻LCR數(shù)字電橋，頻率F≤2MHz時(shí)）來(lái)說(shuō)，為了對(duì)被測(cè)元件（DUT）進(jìn)行準(zhǔn)確的量測(cè)，需采用先進(jìn)的調(diào)試原理，如I-V轉(zhuǎn)換、檢相、ADC、先進(jìn)的補(bǔ)償技術(shù)和準(zhǔn)確的計(jì)算方法等。然而僅有這些是不夠的，采用何種端接技術(shù)和正確使用這些技術(shù)是極為重要的，正確的端接技術(shù)直接關(guān)系量測(cè)的準(zhǔn)確性。本文試圖通過(guò)對(duì)所涉及的端接技術(shù)的描述，指導(dǎo)用戶正確地使用這些端接發(fā)布時(shí)間：2013-12-06 22:36 點(diǎn)擊次數(shù)：2125 次
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LCR數(shù)字電橋使用范圍 LCR數(shù)字電橋主要主要使用于以下幾個(gè)方面1，無(wú)源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測(cè)量。2，LCR數(shù)字電橋半導(dǎo)體元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測(cè)量。3，其它元件：印制電路板、繼電器、開(kāi)關(guān)、電纜、電池等的阻抗評(píng)估。4，介質(zhì)材質(zhì)：塑料、陶瓷和其它材質(zhì)的介電常數(shù)的損耗角評(píng)估。5，磁性材質(zhì)：鐵氧體、非晶體和其它磁性材質(zhì)發(fā)布時(shí)間：2013-12-05 21:40 點(diǎn)擊次數(shù)：1705 次
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IT8511電子負(fù)載接口通訊電纜 IT8511電子負(fù)載接口通訊電纜IT-E131 RS232通訊電纜電子負(fù)載后面板的DB9接口輸出為T(mén)TL電平，您需要通過(guò)附件IT-E131通訊電纜電平轉(zhuǎn)換后才可連接到PC機(jī)的串口上。IT-E121為IT-E131升級(jí)版產(chǎn)品，IT-E121通訊電纜包含IT-E121通訊模塊和一根標(biāo)準(zhǔn)的RS232 直連延長(zhǎng)線。發(fā)布時(shí)間：2013-07-23 11:03 點(diǎn)擊次數(shù)：3269 次
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艾德克斯電源IT6900A滿足多種測(cè)試需求 艾德克斯使用一臺(tái)電源完成多種測(cè)試的案例分析 艾德克斯電源IT6900A滿足多種測(cè)試需求,傳統(tǒng)意義上的電源功率為電壓和電流的乘積，而根據(jù)市場(chǎng)調(diào)查，發(fā)現(xiàn)工程師往往需要頻繁更換使用不同規(guī)格的電源以測(cè)試多種規(guī)格的產(chǎn)品，整個(gè)過(guò)程非常繁瑣，也使設(shè)備成本居高不下。如何在實(shí)驗(yàn)室利用一臺(tái)電源完成多種規(guī)格產(chǎn)品的測(cè)試，并且使控制方式更加靈活多樣，是廣大研發(fā)和設(shè)計(jì)驗(yàn)證人員所非常關(guān)心的問(wèn)題。ITECH 推出的 IT6發(fā)布時(shí)間：2013-06-22 14:57 點(diǎn)擊次數(shù)：2029 次
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IT8511+電子負(fù)載電池放電測(cè)試功能 IT8511+電子負(fù)載電池放電測(cè)試功能 IT8500+具有專門(mén)的電池測(cè)試模式，可以設(shè)置多組測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行保存，可以隨時(shí)調(diào)用并進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試操作簡(jiǎn)單，并且可將按鍵完全鎖定，以防任何的意外觸碰鍵盤(pán)而影響正常測(cè)試。 IT8500+系列電子負(fù)載可使用恒流/恒功率/恒阻模式來(lái)進(jìn)行放電測(cè)試。在選擇好模式后，可設(shè)置終止條件，其為：關(guān)斷電壓值，關(guān)斷容量值和放電時(shí)間，當(dāng)三者中任意一種條件滿足，則放電停止，負(fù)載發(fā)布時(shí)間：2013-02-19 17:57 點(diǎn)擊次數(shù)：7526 次
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IT6720電源在LED照明產(chǎn)品老化測(cè)試的應(yīng)用 IT6720電源在LED照明產(chǎn)品老化測(cè)試的應(yīng)用摘要：本文詳細(xì)介紹了一種LED照明產(chǎn)品長(zhǎng)時(shí)間通電老化試驗(yàn)的方案。主要說(shuō)明了如何結(jié)合系統(tǒng)中的硬件產(chǎn)品，和主要的監(jiān)控軟件，實(shí)現(xiàn)*大程度的發(fā)揮電源在老化系統(tǒng)中的作用，提高多個(gè)LED產(chǎn)品老化測(cè)試的同時(shí)性和自動(dòng)化性，得到*準(zhǔn)確的監(jiān)控?cái)?shù)據(jù)以及*大程度的節(jié)約人力成本的目標(biāo)。該系統(tǒng)已經(jīng)應(yīng)用到實(shí)際的老化試驗(yàn)中，并將進(jìn)一步在LED行業(yè)中推廣和應(yīng)用。 引言：LED 發(fā)光的發(fā)布時(shí)間：2013-02-19 16:27 點(diǎn)擊次數(shù)：2337 次
